全自動(dòng)四探針電阻測(cè)試儀,全自動(dòng)化運(yùn)行測(cè)量系統(tǒng),PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理;參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)方法測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率和方塊電阻;可設(shè)定探針壓力值、測(cè)試點(diǎn)數(shù)、多種測(cè)量模式選擇,可顯示:方阻、電阻率、顯示2D,3D掃描/數(shù)值圖、溫濕度值、提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件;報(bào)表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析
產(chǎn)品分類(lèi)
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類(lèi)型 | 數(shù)字式電阻測(cè)試儀 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,地礦,能源,綜合 |
關(guān)鍵詞:全自動(dòng)四探針電阻測(cè)試儀
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產(chǎn)品用途:
全自動(dòng)四探針電阻測(cè)試儀,全自動(dòng)化運(yùn)行測(cè)量系統(tǒng),PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理;參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)方法測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率和方塊電阻;可設(shè)定探針壓力值、測(cè)試點(diǎn)數(shù)、多種測(cè)量模式選擇,可顯示:方阻、電阻率、顯示2D,3D掃描/數(shù)值圖、溫濕度值、提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件;報(bào)表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析
儀器特點(diǎn):
晶圓、非晶硅/微晶硅和導(dǎo)電膜電阻率測(cè)量;選擇性發(fā)射極擴(kuò)散片;表面鈍化片;交叉指樣PN結(jié)擴(kuò)散片;新型電極設(shè)計(jì),如電鍍銅電阻測(cè)量等;半導(dǎo)體材料分析,鐵電材料,納米材料,太陽(yáng)能電池,LCD,OLED,觸摸屏等.
技術(shù)參數(shù):
規(guī)格型號(hào) | BX-Y1227A |
1.電阻 | 10^-6~2×10^5Ω |
2.方塊電阻 | 10^-6~2×10^5Ω/□ |
3.電阻率 | 10-7~2×106Ω-cm |
4.測(cè)試電流 | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA |
5.電流精度 | ±0.1% |
6.電阻精度 | ≤0.3% |
7.PC軟件操作 | PC軟件界面:電阻、電阻率、電導(dǎo)率、方阻、溫度、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、2D、3D圖譜、壓力、報(bào)表生成等 |
8.壓力范圍: | 探針壓力可調(diào)范圍:軟件控制,100-500g可調(diào) |
9.探針 | 針間絕緣電阻:≥1000MΩ;機(jī)械游移率:≤0.3% 圓頭銅鍍金材質(zhì),探針間距1mm;2mm;3mm選配,其他規(guī)格可定制 |
10.可測(cè)晶片 尺寸選購(gòu) | 晶圓尺寸:2-12寸(6寸150mm,12寸300mm); 方形片:大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm |
11.分析模式 | 單點(diǎn)、五點(diǎn)、九點(diǎn)、多點(diǎn)、直徑掃描、面掃描等模式的自動(dòng)測(cè)試 |
12.重復(fù)性 | 測(cè)量重復(fù)性:重復(fù)性≤3% |
13.防護(hù)功能 | 具有限位量程和壓力保護(hù);誤操作和急停防護(hù);異常警報(bào) |
14.電源 | 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<100W |
15.選購(gòu)項(xiàng)目 | 電腦和打印機(jī) |